半導體風冷溫變試驗機 

產(chǎn)品介紹：

快速溫度循環(huán)試驗箱是一臺可以快速做高溫、低溫、高低溫循環(huán)交變試驗的箱子，它快的速度可以每分種升降溫20℃，當然也可以根據(jù)顧客的要求選擇非標設計定制出符合國標參數(shù)的箱子。非標定制升降溫速度可選擇線性或者非線性2℃／min、3℃／min、4℃／min、5℃／min、6℃／min、7℃／min、8℃／min、9℃／min、10℃／min、15℃／min至20℃／min范圍內(nèi)可選。尺寸大小可以在廠家提供的6個標準范圍內(nèi)選擇，也可以把自己要求的寬、高、深（內(nèi)尺寸）提供給廠家定制。

半導體風冷溫變試驗機 

是樣品在人工設計溫度強度極限下，柳沁廠家運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進行循環(huán)交變時，樣品產(chǎn)生交替的膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應力，使樣品中產(chǎn)生熱應力和應變，通過加速溫變應力來使?jié)摯嬗跇悠返蔫Υ酶‖F(xiàn)[潛在樣品零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該樣品在使用過程中，受到環(huán)境應力的考驗時而導致失效或者故障，造成不必要的重大損失，對于提高樣品出貨質量與降低故障返修次數(shù)有著明顯的效果，另外快速溫度變化本身是一種制程階段的過程，而不是一種可靠度試驗，所以快速溫度循環(huán)試驗箱是對產(chǎn)品進行的程序測試的選擇。

符合標準：

GJB/150.3A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB/150.4A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

GJB/150.9A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術條件。